二维异质结探测器覆盖 405 至 1550 纳米光谱
基于 MoTe₂、石墨烯和 SnS₂ 的器件兼顾宽光谱响应与高灵敏度。
合作团队逐层堆叠 MoTe₂、石墨烯和 SnS₂，并在异质结两侧使用六方氮化硼保护层。研究者在 405 至 1550 纳米的波长范围内测试器件，报告了最高约 10¹³ Jones 的比探测率。不同吸光层与结区内建电场共同影响光生电荷的产生和分离。
课题组博士生李阿蕾为第一作者，在组内参与研究的本科生陈千雪为第二作者。陈锐、张立源与龚佑品为共同通讯作者。论文于 2018 年 12 月在线发表于《Advanced Materials》，随后编入 2019 年第 31 卷第 6 期。