26th International Free-Electron Laser Conference (FEL 2004)会议文献
利用扫描近场红外显微技术进行化学成分成像和光谱分析
Chemical Composition Image and Spectral Analysis by Using SNIM Technology
26th International Free-Electron Laser Conference (FEL 2004) · THPOS34, abstract book p. 199, Trieste (2004)
查看会议文献
论文介绍
高能物理研究所团队将中红外自由电子激光与扫描近场红外显微镜结合。在会议摘要中，他们报告了聚乙烯与聚丙烯混合薄膜的化学成分图像，以及氮化镓样品的近场反射光谱。
阅读赏析
混合薄膜和氮化镓回答了两个不同的问题。前者检验仪器能否画出组分在空间上的差异，后者检验探针能否取得局域反射光谱。两个例子让读者看到，同一套装置既能问“在哪里”，也能问“对哪些波长有响应”。