Rare Metals
Rapid and nondestructive layer number identification of two‐dimensional layered transition metal dichalcogenides
Rare Metals · 36, 698-703 (2017)
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论文介绍
研究在 275 nm 氧化层的 SiO₂/Si 衬底上比较了 MoS₂、MoSe₂ 和 WSe₂ 薄片的反射光谱。结合原子力显微镜测厚与 Fresnel 模型，作者建立了无损判别单层和少层材料的方法。
阅读赏析
相较于针对一种材料建立层数标尺，这项工作考察了同一光学思路能否扩展至多种硫属化物。三种材料各有自己的光谱指纹，实际应用时仍需保留衬底厚度等标定条件。