Rare Metals
Rapidly counting atomic planes of ultra-thin MoSe₂ nanosheets (1 ≤ n ≤ 4) on SiO₂/Si substrate
Rare Metals · 35, 632-636 (2016)
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论文介绍
作者利用反射光的对比度，识别 SiO₂/Si 衬底上由一至四个原子层构成的 MoSe₂ 薄片。用 Fresnel 模型计算的光谱与椭偏测量相符，并以原子力显微镜核对层数。
阅读赏析
同一片单层材料的可见对比度也会随照明波长和氧化层厚度改变。识别层数因而依靠对衬底光学条件的标定，这比凭显微照片的颜色判断更可靠。