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Applied Physics Letters

Atomic force microscope local oxidation nanolithography of graphene

Lishan Weng, Liyuan Zhang, Yong P. Chen, L. P. Rokhinson

Applied Physics Letters · 93, 093107 (2008)

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DOI 10.1063/1.2976429

AI 主题插画按本文主题创作的概念插画。

论文介绍

作者用原子力显微镜探针局域氧化石墨烯,在同一片材料上刻出绝缘沟槽,制成宽约 25 nm 的纳米带和亚微米环。改变刻写条件还会得到凸起而非沟槽。

阅读赏析

对器件制作者而言,形貌和电学功能必须分别检查:刻写后的凸起并不能自动充当绝缘边界。论文把凸起解释为部分氧化的结果,提示探针工艺可以改变材料,也可以切断导电路径。

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